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Loresta-GX電阻檢測儀MCP-T700停產替代型號MCP-T710

  • 發布日期:2025-06-12      瀏覽次數:22
    •   引言
       
        在電子材料、半導體、導電高分子及功能性涂層等領域,精確測量材料的電阻率(ρ)和電導率(σ)是評估其性能的關鍵指標。日東精工(NITTOSEIKO)推出的 Loresta-GXⅡ MCP-T710 電阻檢測儀,憑借其擴展的測量范圍、高精度四探針法及智能化操作,成為研發、生產及質量控制環節中不可少的測量工具。
       
        核心技術特點
       
        1. 寬量程與高精度測量
       
        MCP-T710 采用 恒流施加法 和 四點探針法,覆蓋 10??Ω 至 10?Ω 的超寬測量范圍,滿足從金屬薄膜(低阻)到抗靜電材料(中高阻)的全域測試需求。
       
        多檔恒流輸出(1A、100mA、10mA、1mA、100μA、10μA),自動匹配最佳測試電流,確保不同阻值區間的測量精度(低±0.5%)。
       
        電流反向功能:有效抵消熱電勢影響,尤其適用于半導體硅片、ITO 透明導電膜等對溫度敏感的材料。
       
        2. 專業探頭系統,適配復雜樣品
       
        針對不同材料特性,MCP-T710 提供多種專用探頭:
       
        ASR探頭:標準四探針,適用于平整硬質材料(如玻璃、硅片)。
       
        LSR探頭:低壓力探針,專為柔軟樣品(如導電橡膠、泡沫)設計,避免形變干擾。
       
        ESR探頭:彈性探針,適配粗糙或曲面樣品(如電磁屏蔽涂層、紡織品)。
       
        PSR探頭:微型探針,針對薄膜或微小樣品(如印刷電子、納米銀線涂層)。
       
        3. 智能化操作與高效數據管理
       
        7.5英寸觸摸屏界面:直觀顯示電阻率、電導率及厚度換算結果,支持上下限報警功能,快速判定合格率。
       
        自動測量模式:一鍵完成測試,可選定時器或自動保持(Auto Hold),提升批量檢測效率。
       
        數據存儲與導出:內置2000組數據存儲,支持USB導出CSV格式,便于SPC統計分析及報告生成。
       
        4. 符合國際標準與便攜設計
       
        遵循 JIS K 7194 標準,確保數據國際互認。
       
        緊湊機身(2.4kg)搭配折疊式儲物箱,適合實驗室、生產線及現場檢測。
       
        典型應用領域

      行業

      應用案例

      技術優勢

      半導體與顯示面板

      硅片電阻率、ITO薄膜方阻測量

      高電流模式(1A)精準捕捉低阻值

      高分子材料

      導電塑料、抗靜電復合材料

      LSR探頭避免樣品損傷

      印刷電子

      柔性電路、導電油墨涂層

      PSR探頭實現微區測量

      能源材料

      鋰電電極、燃料電池導電膜

      四探針法排除接觸電阻誤差

       
        使用建議與維護
       
        校準:定期使用隨機附帶的 4針檢查器 驗證探頭狀態。
       
        環境控制:高阻測量時需保持環境濕度<60%,避免靜電干擾。
       
        樣品處理:薄膜樣品需確保無褶皺,金屬表面需清潔氧化層。
       
        結語
       
        Loresta-GXⅡ MCP-T710 通過 技術創新(寬量程、多探頭適配)與 用戶體驗優化(智能界面、數據管理),為材料電學性能測試提供了高可靠性解決方案。無論是研發新型導電材料,還是產線質量控制,其精準、高效的特點均能顯著提升工作效率與數據可信度。
       
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