在光學元件制造(如透鏡、棱鏡、濾光片、AR/VR鏡片等)過程中,表面質量直接影響產品性能。微米級的劃痕、氣泡或鍍膜缺陷可能導致光路偏移、散射增加或成像失真。因此,高精度表面缺陷檢測成為質量控制的關鍵環節,而選擇合適的檢測光源則是確保檢測準確性的核心因素。
傳統檢測方式(如普通LED或熒光燈)常面臨以下問題:
? 照度不足:難以發現微小缺陷
? 熱影響大:導致光學鍍膜或膠合層受損
? 均勻性差:邊緣與中心亮度不一致,造成誤判
針對這些挑戰,日本Yamada推出的YP-150I & YP-250I高強度鹵素燈提供了專業級解決方案。
光學元件的表面缺陷(如納米級劃痕、微塵)需要超高照度才能清晰顯現。
Yamada鹵素燈提供400,000Lx以上照度,遠超普通光源,可識別傳統方法難以檢測的缺陷。
光學鍍膜、膠合透鏡等對溫度敏感,傳統鹵素燈易因高溫導致樣品變形或脫膠。
冷鏡技術將熱輻射降低50%~67%,確保檢測過程不影響樣品特性。
色溫3400K,光線均勻銳利,避免因照明不均導致的誤檢(如邊緣暗區漏檢)。
兩段式調光(高/低亮度)適應不同檢測需求:
高亮度模式:快速發現缺陷
低亮度模式:長時間觀察不傷眼
光學元件類型 | 推薦型號 | 核心優勢 |
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小型透鏡/棱鏡(φ<30mm) | YP-150I | 30mm小光斑+140mm近場照射,精準定位缺陷 |
大尺寸濾光片/鏡片(φ≤60mm) | YP-250I | 60mm寬照射+220mm遠距離,提升檢測效率 |
鍍膜元件(如AR/IR鏡片) | YP-150I | 自然冷卻+低熱影響,保護敏感鍍膜層 |
高反射材料(如金屬鏡) | YP-250I | 350W高功率+強制散熱,應對強反光挑戰 |
案例1:某光學鏡頭廠商
問題:鍍膜鏡片在質檢中頻繁出現假性劃痕誤報。
解決方案:采用YP-150I的均勻光源+冷鏡技術,誤判率降低70%。
案例2:VR透鏡生產商
問題:傳統LED無法檢測納米級注塑瑕疵。
解決方案:YP-250I的400,000Lx照度+60mm照射范圍,缺陷檢出率提升至99.5%。
考量因素 | YP-150I | YP-250I |
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檢測精度 | ★★★★★(30mm精準定位) | ★★★★☆(60mm高效覆蓋) |
熱敏感度 | ★★★★★(自然冷卻) | ★★★☆☆(強制排氣) |
大尺寸適配性 | ★★☆☆☆(適合φ≤30mm) | ★★★★★(適合φ≤60mm) |
長期成本 | ★★★★★(50小時壽命) | ★★★☆☆(35小時壽命) |
選型建議:
若檢測微型光學元件或熱敏感材料,優先選擇YP-150I。
若需快速掃描大尺寸鏡片或檢測高反射表面,推薦YP-250I。
在光學元件制造領域,表面缺陷檢測的精度直接決定產品競爭力。Yamada YP-150I & YP-250I高強度鹵素燈通過:
? 400,000Lx超高照度——發現更微小缺陷
? 冷鏡技術——保護敏感光學材料
? 靈活光斑配置——適配不同尺寸元件
為光學制造企業提供高可靠性、低熱影響、長壽命的專業檢測解決方案。